AI加速卡测试方案

产品参数

BSI port 测试控制器 针对核心Bscan IC进行BSI测试
BSI port 测试拓展器 针对板内RAM/ROM存储通过想关联的Bscan元件进行功能模拟调试
I/O 及Bus测试控制器 对板子上IO控制芯片通过I/O模拟方式进行协议控制测试
HW接口测试卡 对于板内转接线路采用对传或者回路方式进行连通性测试
软件开发平台

产品优势

适用Riser card,HDD BP,PDB,AI Accelerator Card等多接口小卡板卡PCBA测试

可通过IF卡定制兼容支持各类存储接口及PCIe接口

支持连通性与功能测试,整合边界扫描测试技术以实现存储的全覆盖;显著降低材料成本