AI加速卡测试解决方案｜高扩展、全覆盖、低成本，赋能高密度互联功能验证
来源：江苏特创科技有限公司
作者：Techuang
2026-07-21
行业背景
随着AI大模型训练与推理需求的爆发，AI加速卡（如GPU、TPU、NPU等）已成为数据中心算力底座的核心组件。这类加速卡通常集成高带宽内存（HBM）、PCIe高速接口及复杂的电源管理单元，其PCBA上往往包含多个BSI（边界扫描）链、大量I/O控制芯片以及存储类连接器（如用于与背板或Riser卡通信的接口）。在量产测试中，如何高效验证加速卡的信号完整性、协议合规性以及边界扫描链的完整性，同时降低测试耗材成本，是制造商面临的共同挑战。
特创科技针对AI加速卡及同类高密度小卡PCBA的测试需求，推出基于边界扫描技术+模块化接口卡的测试解决方案，覆盖连通性测试、功能测试及协议验证，帮助客户实现快速、全面、低成本的产线测试。
高扩展·全覆盖·低成本
核心优势
1. 通用性与扩展性强
适用于Riser卡、硬盘背板等多接口小卡PCBA，通过可更换的接口卡适配不同规格产品，支持级联扩展，灵活配置测试端口数量。
2. 定制IF卡，支持多种接口
可针对存储接口（如SATA、SAS）及PCIe接口定制IF卡，实现信号接入与验证。
3. 连通性测试与功能测试结合
连通性测试：验证接口引脚的开路/短路。
功能测试：对RAM/ROM及边界扫描IC进行功能验证。
边界扫描（BSI）集成：覆盖存储类连接器，实现全引脚检测。
4. 显著降低测试耗材成本
采用边界扫描技术与自研接口卡，有效减少测试中的耗材投入。
该测试方案可独立运行，也可集成至自动化产线。通过更换不同的IF卡与测试程序，可适配不同型号的AI加速卡或小卡PCBA，支持快速换型。
特创科技AI加速卡测试解决方案，以边界扫描技术为核心，配合模块化硬件组件，为AI服务器及存储设备制造商提供一种灵活、高效、低成本的PCBA测试路径。如需获取详细的技术规格与组件清单，欢迎联系特创科技测试技术团队。
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